项目介绍
通过对材料进行X射线衍射，得到其衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息，可用于物相鉴定、粒径表征、点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定，具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点。
样品要求
1、粉末样至少50mg（如样品密度偏大，请适量增加），手搓无明显颗粒感，越细越好；
2、块体样品需表面平整，尺寸在3*3*1cm以内；
3、块体/薄膜样品请注明测试面；
4、较薄的薄膜/涂层样品（厚度＜100nm）请慎重选择广角XRD；
5、微区XRD样品需标记待测点，束斑最＞0.01mm，样品高度应不超过8mm，待测面应平整光滑。
样品测试案例
1、步长和扫描速度有何关联？扫描速度对样品的测量有何影响？
步长决定了扫描的精细程度，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，如XRD精修等。
2、粉末样品量过少会有什么样的影响？
粉末样品要铺满整个样品台，若样品量过少，可能导致X射线打在样品台上，从而影响数据质量。
3、XRD定量的精确度如何？
XRD为半定量分析，定量测试结果精确度有限，仅供参考。