项目介绍
1、主要用于无机材料（粉体）微结构与微区组成的分析和研究，不适用于有机和生物材料；
2、表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等；
3、成像：衍衬像、高分辨像（HRTEM）、扫描透射像；
4、微区成分：EDS 能谱的点、线和面分析，电子选区衍射。
样品要求
1、粉末5mg，液体0.5ml；不含易分解的有机物质；不含有毒有害物质；含有硫S单质样品，无法拍摄；若样品容易变质需要指明；液体请指明溶剂；
2、多数分子筛不稳定，拍不出清晰的晶格条纹；碳点和量子点的样品尺寸小，拍摄效果与样品质量关系非常大，请合理分析拍摄结果不符合预期的原因；
3、样品拍摄图片数量：TEM10张左右，HRTEM包含TEM共15张左右；
4、含铁、钴、镍、锰、钌等磁性元素的样品定义为磁性样品；请仔细检查样品磁性，因隐瞒样品信息导致仪器损坏的，需要您承担全部赔偿责任。
仪器参数
1、加速电压: 80KV 与200 KV，可快速进行不同高压切换；
2、点分辨率：0.23nm（TEM）；0.19nm（STEM）
3、样品倾斜角度X/Y：±35°/±30°（双倾样品台）
4、EDS能谱能量分辨率：136 ev; 元素检测范围：B～U元素
样品测试效果图
1、 影响TEM成像的因素有哪些？
主要有相位衬度（相位差引起）、振幅衬度（包括质厚衬度、衍射衬度），一般测试中主要考虑质厚衬度（质量、厚度），其中厚度又是主要的因素。
2、拍摄TEM样品，分辨效果不好有哪些原因？
可能是样品太厚，TEM样品厚度大于100nm时，电子束不易穿透，导致效果不好；可能样品稳定性太差，拍摄高分辨的时候样品易发生变化，导致拍摄只能以抓拍形式，清晰度会受影响，或者拍摄过程中样品直接消失。
3、为什么没有N的样品，能谱测试却有很多N元素呢？
在Mapping的测试中，C N O的分辨较差，在有氧的地方通常能扫出碳和氮，能谱下C N O三种元素不能很好的区分，会互相干扰，如果要进行N的测试，最好不用能谱，用EELS（电子能量损失谱）较好。
4、明场像与暗场像成像的区别？
明场像成像是将衍射束遮挡住，只让透射束参与成像；暗场像成像是将透射束遮挡住，只让一束较强的衍射束成像。由此可知，只有含有晶体类物质衍衬像，才存在明暗之分。