项目介绍
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）：是一种可以用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小针尖，使之与样品表面轻轻接触。由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，会使悬臂发生微小的偏转。通过检测出偏转量并作用反馈控制其排斥力的恒定，就可以获得微悬臂对应于各点的位置变化，从而获得样品表面形貌的图像。
成像模式：
1、接触模式：针尖与样品表面距离小，利用原子间的斥力；可获得高解析度图像；样品变形，针尖受损；不适合于表面柔软的材料；
2、非接触模式：针尖距离样品5-20nm,利用原子间的吸引力，不损伤样品表面，可测试表面柔软样品；分辨率低，有误判现象；
3、轻敲模式：探针在Z轴维持固定频率振动，当振动到谷底时与样品接触，对样品破坏小，分辨率几乎同接触模式相同。
样品要求
1、薄膜样品，尺寸不大于2*2cm（请备注好测试面）；
2、粉末样品，质量不少于5mg；
3、液体样品，体积不小于1mL（浓度不确定，可以加送溶剂空白样，进行测试前稀释）；
4、C-AFM、PFM都要求样品导电；
5、提供明确的测试要求（常规20X20μm以内的测试区域就可以），最好能上传参考形貌并且打印随样品寄出；
6、AFM测试超过1小时按单价/小时收费（针对难测的样品，如二维材料），一般测试都在1小时/样；
7、如果测试区域在1*1μm以下，则需要与技术经理提前联系。
仪器参数
1、大样品台（150mm）
2、具有接触模式、轻敲模式、相位成像模式、抬起模式、暗抬高模式等多种扫描方式
3、具有表面形貌扫描、静电力显微镜、导电原子力显微镜、磁力显微镜、横向力/摩擦力显微镜、力曲线、纳米压印、图形化衬底）测试等功能模块
4、高度扫描范围：10μm
样品测试效果图
